TOAD3.0 TÜRKİYE
ÖLÇME
ARAÇLARI
DİZİNİ
Ölçek Ekle
© Prof. Dr. Halil Ekşi I Marmara Üniversitesi I toadizini@gmail.com

Nanoteknoloji Tutum Ölçeğİ

Ölçek özeti

Çalışma türü
Geliştirme
Yıl
2012
Kaynak türü
Makale
Hedef grup
Lise Öğrencileri
Ölçülen özellik
Nanoteknolijiye İlişkin Tutum
Alt boyutlar
-

Kaynak ve Dosyalar

Kaynak/Referans:

Kurnaz,, M. A., ve Bayraktar,, G. (2012). Nanoteknoloji Tutum Ölçeği: Geliştirilmesi, geçerliliği ve güvenilirliği. Bayburt Üniversitesi Eğitim Fakültesi Dergisi, 7(1), 41–53.


Kaynak Bağlantısı: http://edergi.bayburt.edu.tr/index.php/befd/article/download/134/122

Diğer kaynak bilgileri

Kaynak Türü: Makale


Yıl: 2012


Kaynak Adı: Nanoteknoloji Tutum Ölçeği: Geliştirilmesi, geçerliliği ve güvenilirliği


Dergi: Bayburt Eğitim Fakültesi Dergisi


Cilt: 7


Sayı: 1


Sayfa Aralığı: 41-53


İzin ve İletişim

Kullanım İzni
Dizinde yer alan e-posta adresi TOAD ekibi tarafından açık kaynaklardan eklenmiştir. Dizinde sorumlu yazar e-postası yer almıyorsa veya dizinde yer alan e-postadan geri dönüş alamıyorsanız başka kaynaklardan diğer e-postalarına ulaşarak izin almanızı öneririz.

Sorumlu Yazar: Mehmet Altan Kurnaz


Ölçek Bilgileri

Yazarlar: Güntaç Bayraktar, Mehmet Altan Kurnaz


Ölçek Çeşidi: Geliştirme


Kategori(ler):

30 Eğitim Bilimleri ve Öğretmen Yetiştirme » 350 Bilgisayar ve Öğretim Teknolojileri Eğitimi


Ölçülen Özellikler: Nanoteknolijiye İlişkin Tutum


Örnek Maddeler ve Madde Sayıları:

İki faktör ve 19 madde
Faktör 1 maddelerinin faktör yük değerleri 0,65-0,82 arasında değiştiği belirlenmiştir.
Faktör 2 maddelerinin faktör yük değerleri 0,71-0,78 arasında değiştiği belirlenmiştir.


Kimlere Uygulanabilir: Lise Öğrencileri


Derecelendirme: 4’lü Likert (1= hiçbir zaman – 4= her zaman


Ölçek Puanlaması:

Ölçekten alınabilecek puan 19 ile 76 arasında değişmektedir. Ölçekte ters madde bulunmamaktadır.)


Ölçek Değerlendirmesi:

Ölçeğin her bir alt boyutundan alınan yüksek puan bireyin ilgili alt boyutun değerlendirdiği özelliğe sahip olduğunu göstermektedir. Ölçek ayrıca toplam iyi oluş puanı vermektedir.


Geçerlik:

Nano-teknoloji tutum ölçeği elde etmek için toplanan verilerin faktör analizi için uygun olduğu söylenebilir. Çünkü toplanan veriler için KMO katsayısı 0,97 olarak elde edilmiştir. Bu örneklem büyüklüğünün mükemmele yakın olduğunu, daha açık ifadeyle yeterli olduğunu, göstermektedir. Ayrıca Barlett testi Khi-kare değeri istatistiksel olarak anlamlı bulunmuştur. Buda ölçek maddeleri arasında bir korelasyon söz konusu olduğunu ve elde edilen veriler için açımlayıcı faktör analizinin yapılabileceğini ortaya koymaktadır.


Güvenirlik:

Elde edilen veriler SPSS programıyla analiz edilmiştir. Ölçeğin son şekli açımlayıcı faktör analiziyle ortaya çıkarılmış olup Cronbach-Alfa iç tutarlık katsayısı ise 0,88 olarak tespit edilmiştir


Kullanılan Araştırmalar
scholar.google.com.tr

Sitemizden en iyi biçimde yararlanabilmeniz için çerezler kullanılmaktadır. Bu siteye giriş yaptığınızda çerez kullanımını kabul etmiş olursunuz.    Daha Fazla Bilgi